Сканирующий зондовый микроскоп — Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, англ. SPM Scanning Probe Microscope) класс микроскопов для получения изображения поверхности и её локальных характеристик. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом … Википедия
Теория фазированных антенных решёток — Содержание 1 Введение в теорию 1.1 КНД … Википедия
Фазированная антенная решётка — Огромная наземная ФАР системы предупреждения о ракетном нападении на Аляске, США … Википедия
Фазированная антенная решётка — (ФАР) фазированная решётка, Антенная решётка с управляемыми Фазами или разностями фаз (фазовыми сдвигами) волн, излучаемых (или принятых) её элементами (излучателями). Управление фазами (фазирование) позволяет: формировать (при весьма… … Большая советская энциклопедия
Фазированная антенная решетка — Огромная наземная ФАР системы предупреждения о ракетном нападении на Аляске, США Система управления вооружением современного истребителя Фазированная антенная решётка в волновой теории группа антенных излучателей, в которых относительная… … Википедия
Фазированная решетка — Огромная наземная ФАР системы предупреждения о ракетном нападении на Аляске, США Система управления вооружением современного истребителя Фазированная антенная решётка в волновой теории группа антенных излучателей, в которых относительная… … Википедия
Фазированная решётка — Огромная наземная ФАР системы предупреждения о ракетном нападении на Аляске, США Система управления вооружением современного истребителя Фазированная антенная решётка в волновой теории группа антенных излучателей, в которых относительная… … Википедия
Средства защиты информации — это совокупность инженерно технических, электрических, электронных, оптических и других устройств и приспособлений, приборов и технических систем, а также иных вещных элементов, используемых для решения различных задач по защите информации, в том … Википедия
Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес … Википедия